<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">procyber</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Вестник кибернетики</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Proceedings in Cybernetics</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="epub">1999-7604</issn><publisher><publisher-name>Бюджетное учреждение высшего образования Ханты-Мансийского автономного округа – Югры «Сургутский государственный университет»</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">procyber-227</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>Engeneering</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Автоматизированная система расчета отбраковочных допусков на электрорадиоэлементы электронных средств</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Automated calculation of tolerances screening for electronic components of electronic means</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бушмелева</surname><given-names>К. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bushmeleva</surname><given-names>K. I.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">bkiya@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бажаев</surname><given-names>А. Б.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bazhaev</surname><given-names>A. B.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">bazh.fit@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Увайсов</surname><given-names>С. У.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Uvaisov</surname><given-names>S. U.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">uvaysov@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бушмелев</surname><given-names>П. Е.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bushmelev</surname><given-names>P. E.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">bpe@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Сургутский государственный университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Surgut State University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский технологический университет МИРЭА</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Technological University MIREA</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>ООО «Газпром трансгаз Сургут»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>OOO “Gazprom transgaz Surgut”</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2018</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>27</day><month>03</month><year>2020</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1 (29)</issue><fpage>72</fpage><lpage>81</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Бушмелева К.И., Бажаев А.Б., Увайсов С.У., Бушмелев П.Е., 2020</copyright-statement><copyright-year>2020</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Бушмелева К.И., Бажаев А.Б., Увайсов С.У., Бушмелев П.Е.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Bushmeleva K.I., Bazhaev A.B., Uvaisov S.U., Bushmelev P.E.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.vestcyber.ru/jour/article/view/227">https://www.vestcyber.ru/jour/article/view/227</self-uri><abstract><p>В данной работе представлена разработка автоматизированной системы расчета отбраковочных допусков на электрорадиоэлементы технических устройств выполненная на основе проведенного анализа и реализации по проектированию организационно-функциональной модели системы, физической модели базы данных и разработанному пользовательскому интерфейсу.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The paper presents the development of an automated calculation system of tolerances screening for electronic components of technical devices. The study is based on an analysis and implementation for the layout of organizational-functional model of the system, physical model of the database and developed user interface.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>автоматизированная система</kwd><kwd>отбраковочные допуски</kwd><kwd>электрорадиоэлементы</kwd><kwd>печатный узел</kwd><kwd>организационно-функциональная модель</kwd><kwd>база данных</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>automated system</kwd><kwd>tolerances screening</kwd><kwd>electronic components</kwd><kwd>printed board assembly</kwd><kwd>organizational-functional model</kwd><kwd>data base</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Техническая диагностика : справочник : в 10 т. / ред. совет: В. С. Авдуевский [и др.]. ; под общ. ред. В. В. Клюева, П. П. Пархоменко. М. : Машиностроение, 1987. Т. 9. 352 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Техническая диагностика : справочник : в 10 т. / ред. совет: В. С. Авдуевский [и др.]. ; под общ. ред. В. В. Клюева, П. П. Пархоменко. М. : Машиностроение, 1987. Т. 9. 352 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лихтциндер Б. Я. Внутрисхемное диагностирование узлов радиоэлектронной аппаратуры. М. : Техника, 1988. 168 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Лихтциндер Б. Я. Внутрисхемное диагностирование узлов радиоэлектронной аппаратуры. М. : Техника, 1988. 168 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Долматов А. В., Лобурец Д. А., Увайсов С. У. Определение допусков на параметры электрорадиоизделий функциональных узлов с учетом дестабилизирующих факторов // LIII научная сессия, посвященная Дню радио : тез. докл. М. : РНТО РЭС им. А. С. Попова, 1998.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Долматов А. В., Лобурец Д. А., Увайсов С. У. Определение допусков на параметры электрорадиоизделий функциональных узлов с учетом дестабилизирующих факторов // LIII научная сессия, посвященная Дню радио : тез. докл. М. : РНТО РЭС им. А. С. Попова, 1998.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Стандарт IDEF0. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://www.cfin.ru/vernikov/idef/idef0.shtml (дата обращения: 10.10.2017).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Стандарт IDEF0. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://www.cfin.ru/vernikov/idef/idef0.shtml (дата обращения: 10.10.2017).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Долматов А. В., Лобурец Д. А., Увайсов С. У. Комплексное электротепловое моделирование при проектировании и диагностировании радиоэлектронных средств // Информатика-машиностроение. 1998. № 2. С. 23–31.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Долматов А. В., Лобурец Д. А., Увайсов С. У. Комплексное электротепловое моделирование при проектировании и диагностировании радиоэлектронных средств // Информатика-машиностроение. 1998. № 2. С. 23–31.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bushmeleva K. I., Plyusnin I. I., Bushmelev P. E., Uvaysov S. U. Modeling the optimal parameters for a remote sensing device // Measurement Techniques. 2011. Т. 54. № 3. Р. 294–299.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bushmeleva K. I., Plyusnin I. I., Bushmelev P. E., Uvaysov S. U. Modeling the optimal parameters for a remote sensing device // Measurement Techniques. 2011. Т. 54. № 3. Р. 294–299.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Еремина В. Е., Абрамешин А. Е., Арестова А. Ю., Адюкова Е. В. Методика расчета отбраковочных допусков на комплектующие элементы в составе печатного узла с учетом влияния температуры и старения на примере резисторов // Инновационные информационные технологии : мат-лы междунар. науч.-практ. конф. ; под ред. С. У. Увайсова. М. : МИЭМ, 2012. 602 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Еремина В. Е., Абрамешин А. Е., Арестова А. Ю., Адюкова Е. В. Методика расчета отбраковочных допусков на комплектующие элементы в составе печатного узла с учетом влияния температуры и старения на примере резисторов // Инновационные информационные технологии : мат-лы междунар. науч.-практ. конф. ; под ред. С. У. Увайсова. М. : МИЭМ, 2012. 602 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Еремина В. Е. Выражение для расчета в общем виде отбраковочного допуска на сопротивление резисторов с учетом температурного фактора // Ежегодная науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ : тез. докл. М. : МИЭМ, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Еремина В. Е. Выражение для расчета в общем виде отбраковочного допуска на сопротивление резисторов с учетом температурного фактора // Ежегодная науч.-техн. конф. студентов, аспирантов и молодых специалистов МИЭМ : тез. докл. М. : МИЭМ, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Еремина В. Е., Увайсова С. С., Масленникова Я. Л. Синтез отбраковочного допуска на емкость конденсаторов с учетом температурного фактора // Инновационные технологии, научные и технические достижения, их правовая защита : Сб. стат. IV Междунар. науч.- практ. конф. Тольятти. М. : Типография Ника, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Еремина В. Е., Увайсова С. С., Масленникова Я. Л. Синтез отбраковочного допуска на емкость конденсаторов с учетом температурного фактора // Инновационные технологии, научные и технические достижения, их правовая защита : Сб. стат. IV Междунар. науч.- практ. конф. Тольятти. М. : Типография Ника, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Документация Altium Designer. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://wiki.altium.com/display/RUPROD/Altium+Designer/ (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Документация Altium Designer. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://wiki.altium.com/display/RUPROD/Altium+Designer/ (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Уроки по SolidWorks. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://cad.life/index/rascheti/teplovoj-raschet-radiatora-oxlazhdeniya-v-solidworks-simulation.html/ (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Уроки по SolidWorks. 2017. [Электронный ресурс]. URL: http://cad.life/index/rascheti/teplovoj-raschet-radiatora-oxlazhdeniya-v-solidworks-simulation.html/ (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Справочник по SolidWorks. 2017. [Электронный ресурс] URL: http://help.solidworks.com/2013/russian/SolidWorks/cworks/c_Thermal_Analysis.htm (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Справочник по SolidWorks. 2017. [Электронный ресурс] URL: http://help.solidworks.com/2013/russian/SolidWorks/cworks/c_Thermal_Analysis.htm (дата обращения: 12.10.2017).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
