ДЕТЕКТИРОВАНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ОТВЕРСТИЙ СИГНАТУРНЫМ АНАЛИЗОМ

Аннотация

В представленной работе рассматривается задача определения формы и технологических параметров отверстий (форма, местоположение (координаты), размеры и проч.) с использованием метода сигнатурного анализа изображения. Данная тема является особенно актуальной в машиностроительной отрасли, где необходимо осуществлять контроль качества технологических отверстий в режиме реального времени. В качестве классификатора используется искусственная нейронная сеть прямого распространения. Применение вышеуказанного подхода позволяет на основе обучающей выборки получить приемлемое качество классификации образов (отверстий). Представленный подход позволяет эффективно решать задачу детектирования отверстий в условиях помех. Проектирование искусственной нейронной сети, обучение и тестирование осуществлялось в среде Matlab. Для достижения помехоустойчивости классификатора осуществлялась фильтрация, как изображения, так и полученных сигнатур. В результате компьютерного эксперимента в среде Matlab представленная система показала возможности идентификации технологических отверстий с приемлемой точностью.